検査・測定
結果の1～24件目 (30件中) を表示中
-
3D測定レーザー顕微鏡
LEXT OLS5100
3D測定レーザー顕微鏡LEXT OLS5100
商品コード: n/a -
コンパクトレーザー干渉計
F601球面システム
コンパクトレーザー干渉計F601球面システム
商品コード: n/a -
干渉縞検査灯
ニュートン(干渉縞)検査灯
干渉縞検査灯ニュートン(干渉縞)検査灯
商品コード: n/a -
ARマイクロスコープ
SZX-AR1
ARマイクロスコープSZX-AR1
商品コード: n/a -
干渉計縞解析装置
縞解析装置A1
干渉計縞解析装置縞解析装置A1
商品コード: n/a -
透過偏心測定器
CS-A1100
透過偏心測定器CS-A1100
商品コード: n/a -
非接触中芯厚測定器
非接触レンズ中心厚自動測定機 CT-Gauge
非接触中芯厚測定器非接触レンズ中心厚自動測定機 CT-Gauge
商品コード: n/a -
干渉縞解析装置
IFM
干渉縞解析装置IFM
商品コード: n/a -
顕微分光測定機
USPM-RU-W
顕微分光測定機USPM-RU-W
商品コード: n/a -
レーザー交換
干渉計レーザー交換
レーザー交換干渉計レーザー交換
商品コード: n/a -
6インチ レーザー干渉計
AK-150ZF平面システム
6インチ レーザー干渉計AK-150ZF平面システム
商品コード: n/a -
中心厚判別装置
肉厚計測OK/NG判別装置
中心厚判別装置肉厚計測OK/NG判別装置
商品コード: n/a -
青板ガラス
原器用バー材
青板ガラス原器用バー材
商品コード: n/a -
4インチ レーザー干渉計
AK-100ZFニュートンチェッカーシステム
4インチ レーザー干渉計AK-100ZFニュートンチェッカーシステム
商品コード: n/a -
半導体/FPD検査顕微鏡
MX63 / MX63L
半導体/FPD検査顕微鏡MX63 / MX63L
商品コード: n/a -
1.5インチ レーザー干渉計
AK-40ZF平面/球面システム
1.5インチ レーザー干渉計AK-40ZF平面/球面システム
商品コード: n/a -
実体顕微鏡
SZ61
実体顕微鏡SZ61
商品コード: n/a -
4インチ レーザー干渉計
AK-100ZF平面/球面システム
4インチ レーザー干渉計AK-100ZF平面/球面システム
商品コード: n/a -
正立金属顕微鏡
BX53M
正立金属顕微鏡BX53M
商品コード: n/a -
φ102/φ150レーザー干渉計
G102
φ102/φ150レーザー干渉計G102
商品コード: n/a -
外観検査用LED照明
エコライト
外観検査用LED照明エコライト
商品コード: 777
