数十社のユーザーのご意見、ご要望を基に新たな干渉縞解析装置を開発し、刷新しました。
・アイコンによる操作で、初心者でも容易に測定作業が可能
通过图标屏幕的简单操作，即使是初学者也能轻松完成测量。
・画像処理技術の導入による位相つなぎ精度の向上
通过使用图像处理软件进行自动掩膜设置和相位解包
・様々な解析機能の追加 增加了各种新的分析功能
→ ゼルニケ係数：Fringe Zernike及びStandard Zernike係数の両方で解析可能
Zernike系数：穗状Zernike和标准Zernike系数都可以使用。
→ カルテシアン係数：直交座標系での解析、及び収差リムーブが可能
笛卡尔系数：可以在笛卡尔坐标系和像差极限中进行分析。
→ ユーザー定義関数での解析：Zernike, PV, Coma, Powerなどの演算機能
分析用户定义的函数：Zernike, PV, Coma, Power等。
→ 位相データ演算機能：平均化処理、2球面法、3平面法など様々な解析が可能
相位数据计算功能：可以进行平均化处理、2-球法、3-平面法和其他各种分析。
→ 異常画像（ゴミ、キズ）自動除去機能
自动去除异常图像（灰尘、划痕）。
・PV値、RMS値、ザイデル収差（球面/コマ/アス）、3D（鳥瞰図）、2D（等高線図）、 断面解析はもちろんのこと、 IRR（Irregularity）、RSI（Rotationally Symmetric Irregularity)のISO10110-5に準拠する解析も可能
PV（峰谷）、RMS（均方根）、赛德尔像差（球面/彗星/AS）、3D（鸟瞰）、2D（等高线图）、横截面分析以及IRR（不规则度）、RSI（旋转）。根据ISO 10110-5的规定，也可以进行对称不规则性（RSI）分析。
