检查和测量设备
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4インチ レーザー干渉計 4英寸 激光干涉仪
AK-100ZF平面/球面システム AK-100ZF 球面/平面系统
4インチ レーザー干渉計 4英寸 激光干涉仪AK-100ZF平面/球面システム AK-100ZF 球面/平面系统
SKU: n/a -
ARマイクロスコープ
SZX-AR1
ARマイクロスコープSZX-AR1
SKU: n/a -
1.5インチ レーザー干渉計 1.5英寸 激光干涉仪
AK-40ZF平面/球面システム AK-40ZF 平面/球面系统
1.5インチ レーザー干渉計 1.5英寸 激光干涉仪AK-40ZF平面/球面システム AK-40ZF 平面/球面系统
SKU: n/a -
半導体/FPD検査顕微鏡
MX63 / MX63L
半導体/FPD検査顕微鏡MX63 / MX63L
SKU: n/a
